SOI工藝的廣泛應(yīng)用
絕緣體上硅(SOI)硅片由頂層硅膜、埋氧層和硅襯底三部分組成。隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,體硅襯底CMOS集成電路面臨著諸多挑戰(zhàn),如寄生閂鎖效應(yīng)(Latch-UpEffect)、短溝道效應(yīng)、泄漏電流增大、閾值電壓漂移、寄生電容增大等,SOI集成電路則可減少上述困擾。SOI集成電路可以實(shí)現(xiàn)集成電路中器件之間更有效的介質(zhì)隔離,并徹底消除體硅襯底CMOS電路中的寄生閂鎖效應(yīng),同時(shí)降低寄生電容和RC延遲,提高電路操作速度,減少光掩模版數(shù)量,減緩短溝道效應(yīng),降低功耗。
根據(jù)器件工作時(shí)溝道區(qū)域是否存在中性區(qū),將SOI器件分為部分耗盡型SOI器件及全耗盡型SOI器件兩種類型,F(xiàn)D-SDI器件的頂層硅膜較薄,導(dǎo)通狀態(tài)下硅膜處于完全耗盡狀態(tài),消除了中性體區(qū)引起的翹曲效應(yīng)(KinkEffect)和寄生n-p-n管效應(yīng)。同時(shí),超薄的頂層硅膜使柵極對溝道控制能力得到提高,亞閾值擺幅得到改善,因此FD-SOI器件具有良好的短溝道特性。相對于體硅FinFET,F(xiàn)D-SOI因目前仍然采用平面架構(gòu),其工藝實(shí)現(xiàn)難度及制造成本相對較低。雖然在SOI襯底上制備集成電路的工藝相對簡單,但其原材料成本較高,限制了SOI工藝的廣泛應(yīng)用。除了介個(gè)因素,F(xiàn)D-SOI的產(chǎn)業(yè)生態(tài)環(huán)境也是制約其發(fā)展的重要因素,模擬仿真軟件、設(shè)計(jì)IP、設(shè)計(jì)工具尚不及普通體硅技術(shù)健全,因此FD-SOI目前主要應(yīng)用于低功耗、低漏電等領(lǐng)域。
soi工藝的優(yōu)點(diǎn)
高性能?:SOI技術(shù)能夠提高晶體管的速度,因?yàn)樗鼫p少了寄生電容,從而減少了信號(hào)傳輸?shù)难舆t。這有助于提升電路的整體性能?。
?改善的輻射硬度?:SOI電路對輻射的耐受性更強(qiáng),這使得它們適用于航天和軍事應(yīng)用。在面對輻射環(huán)境時(shí),SOI電路能夠保持穩(wěn)定的性能,減少因輻射導(dǎo)致的故障?。
?更小的芯片尺寸?:由于SOI晶體管可以實(shí)現(xiàn)更緊湊的布局,因此可以制造出更小的芯片。這有助于減少芯片的物理尺寸,同時(shí)保持或提升電路性能?。
?高溫工作能力?:SOI電路可以在更高的溫度下工作,這對于汽車和工業(yè)應(yīng)用來說是一個(gè)重要的優(yōu)勢。能夠在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作的電路對于許多實(shí)際應(yīng)用場景至關(guān)重要?。
?簡化制造過程?:SOI技術(shù)可以簡化某些制造步驟,因?yàn)樗鼫p少了晶體管之間的相互作用。這有助于提高生產(chǎn)效率,同時(shí)降低制造成本?。
此外,SOI工藝還具有寄生電容小、集成密度高、速度快的特點(diǎn),這些優(yōu)勢使得SOI有望成為深亞微米的低壓、低功耗集成電路的主流技術(shù)?2。SOI材料還被用來制造MEMS光開關(guān),利用體微機(jī)械加工技術(shù),實(shí)現(xiàn)了元器件的介質(zhì)隔離,徹底消除了體硅CMOS電路中的寄生閂鎖效應(yīng)?。
總結(jié):以上就是小編整理的關(guān)于soi工藝的應(yīng)用及優(yōu)點(diǎn),希望能夠幫助到大家。